1,077 Results for : vlsi

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    Ravikumar, Si Pi: Parallel Methods for VLSI Layout Design
    Erscheinungsdatum: 01.01.1995, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Parallel Methods for VLSI Layout Design, Autor: Ravikumar, Si Pi // Ravikumar, C. P., Verlag: Praeger, Sprache: Englisch, Schlagworte: COMPUTERS // Logic Design, Rubrik: Informatik, Seiten: 214, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 813 gr, Verkäufer: averdo
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    Microfluidic Very Large Scale Integration (VLSI)
    Erscheinungsdatum: 16.02.2016, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Microfluidic Very Large Scale Integration (VLSI), Titelzusatz: Modeling, Simulation, Testing, Compilation and Physical Synthesis, Auflage: 1. Auflage von 2016 // 1st ed. 2016, Autor: Madsen, Jan // Minhass, Wajid Hassan // Pop, Paul, Verlag: Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Biomedizin // Medizin // Biomedizinische Technik // Elektronische Geräte und Materialien, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 288, Informationen: HC runder Rücken kaschiert, Gewicht: 592 gr, Verkäufer: averdo
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    Chandrasetty, V: VLSI DESIGN 2011/E
    Erscheinungsdatum: 08/2011, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: VLSI Design: A Practical Guide for FPGA and ASIC Implementations, Auflage: 2011, Autor: Chandrasetty, Vikram Arkalgud, Verlag: SPRINGER NATURE // Springer US, Imprint: Springerbriefs in Electrical a, Sprache: Englisch, Schlagworte: Technology & Industrial Arts // COMPUTERS // Systems Architecture // General // Logic Design // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Electronics // Circuits // Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf, Rubrik: Informatik, Seiten: 106, Herkunft: GROSSBRITANNIEN (GB), Reihe: Springerbriefs in Electrical a, Gewicht: 201 gr, Verkäufer: averdo
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    Zobrist, George W.: VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
    Erscheinungsdatum: 01.01.1993, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: VLSI Fault Modeling and Testing Techniques, Autor: Zobrist, George W., Redaktion: Zobrist, George W., Verlag: Ablex Publishing Corp., Sprache: Englisch, Schlagworte: PSYCHOLOGY // General, Rubrik: Psychologie // Allgemeines, Lexika, Seiten: 208, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 417 gr, Verkäufer: averdo
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    Tan, Sheldon: Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
    Erscheinungsdatum: 17.08.2012, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design, Autor: Tan, Sheldon // He, Lei, Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: COMPUTERS // Computer Engineering // Informatik, Rubrik: Informatik, Seiten: 260, Informationen: Paperback, Gewicht: 455 gr, Verkäufer: averdo
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    Sarkar, Angsuman: Low Power VLSI Design
    Erscheinungsdatum: 08.08.2016, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Low Power VLSI Design, Titelzusatz: Fundamentals, Autor: Sarkar, Angsuman // De, Swapnadip // Chanda, Manash // Sarkar, Chandan Kumar, Verlag: de Gruyter Oldenbourg // De Gruyter Oldenbourg, Sprache: Englisch, Schlagworte: Elektrotechnik // Signal // technisch // Bauelement // elektronisch // Baustein // Elektronik // Bauelemente // Schaltung // Grundschaltung // Standardschaltung // Ingenieurwissenschaft // Ingenieurwissenschaftler // Datenverarbeitung // Anwendungen // Technik // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Electronics // Circuits // Integrated // Ingenieurswesen // Maschinenbau allgemein // Signalverarbeitung, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 310, Abbildungen: 287 Schwarz-Weiß- Abbildungen, 23 Schwarz-Weiß- Tabellen, Gewicht: 683 gr, Verkäufer: averdo
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    Tan, Sheldon: Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
    Erscheinungsdatum: 01.06.2016, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design, Autor: Tan, Sheldon // He, Lei, Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: COMPUTERS // Computer Engineering // Informatik, Rubrik: Informatik, Seiten: 260, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 636 gr, Verkäufer: averdo
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    Jayanthy, S.: Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
    Erscheinungsdatum: 10.10.2018, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits, Autor: Jayanthy, S. // Bhuvaneswari, M. C., Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer Singapore, Sprache: Englisch, Schlagworte: Computer // PC-Hardware // Datenverarbeitung // Rechneraufbau // Rechnerstrukturen // Elektronik // Schaltung // Grundschaltung // Standardschaltung // Aufrüsten // Reparieren // Selbstbau // Algorithmus // Informatik // EDV // Theorie // Allgemeines // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Electronics // Circuits // General // Wartung und Reparaturen // IT // Algorithmen und Datenstrukturen // Systemanalyse und // design // Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 156, Abbildungen: 30 schwarz-weiße und 30 farbige Abbildungen, Bibliographie, Informationen: Book, Gewicht: 428 gr, Verkäufer: averdo
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    Song, H: Arts of VLSI Opamp Circuit Design - A Structural Ap
    Erscheinungsdatum: 07.06.2015, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: The Arts of VLSI Opamp Circuit Design - A Structural Approach Based on Symmetry, Autor: Song, Hongjiang, Verlag: Lulu.com, Sprache: Englisch, Schlagworte: TECHNOLOGY & ENGINEERING // Engineering // General, Rubrik: Technik allgemein, Seiten: 314, Informationen: Paperback, Gewicht: 485 gr, Verkäufer: averdo
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    Hill, Frederick J.: Computer Aided Logical Design with Emphasis on VLSI
    Erscheinungsdatum: 28.01.1993, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Computer Aided Logical Design with Emphasis on VLSI, Auflage: 4. Auflage von 1993 // 4. Auflage, Autor: Hill, Frederick J. // Peterson, Gerald R. // Hill, Fredrick J., Verlag: John Wiley & Sons, Sprache: Englisch, Schlagworte: COMPUTERS // Computer Engineering // Informatik, Rubrik: Informatik, Seiten: 552, Informationen: Paperback, Gewicht: 1025 gr, Verkäufer: averdo
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