453 Results for : defect

  • Thumbnail
    Huizinga: Automated Defect Prevention
    Erscheinungsdatum: 04.09.2007, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Automated Defect Prevention, Autor: Huizinga // Kolawa, Verlag: John Wiley & Sons, Sprache: Englisch, Schlagworte: COMPUTERS // Software Development & Engineering // General, Rubrik: Programmiersprachen, Seiten: 454, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 844 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 157.69 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Takele Kasa:Manufacturing defect analys
    Erscheinungsdatum: 26.10.2013, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Manufacturing defect analysis and waste minimization, Titelzusatz: Plastic extrusion process, Autor: Takele Kasa, Temesgen, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Maschinenbau // Fertigungstechnik, Seiten: 212, Informationen: Paperback, Gewicht: 334 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 58.39 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Rajasekhar Reddy:SQA Defect Prediction:
    Erscheinungsdatum: 25.09.2015, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: SQA Defect Prediction: An SVM Based In-Appendage Software Log Analysis, Autor: Rajasekhar Reddy, Nandireddy, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Technik // Sonstiges, Seiten: 176, Informationen: Paperback, Gewicht: 280 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 61.39 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Discusslot RVS - 70 mm
    Dit discusslot is ideaal te combineren met bijvoorbeeld een trekhaakslot. Ook kan het dienen ter vervanging van een defect slot.
    • Shop: ManoMano
    • Price: 20.95 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Singh:Measurement of seeded defect widt
    Erscheinungsdatum: 13.06.2017, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Measurement of seeded defect width in the bearing using Sym5 wavelet, Autor: Singh, Manpreet, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Technik // Sonstiges, Seiten: 168, Informationen: Paperback, Gewicht: 267 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 55.89 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Unger:Traceability from defect to requi
    Erscheinungsdatum: 17.08.2015, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Traceability from defect to requirement for the Atlassian tools suite, Titelzusatz: An evaluation and feasibility study, Autor: Unger, Klaus, Verlag: AV Akademikerverlag, Sprache: Englisch, Rubrik: Informatik, Seiten: 96, Informationen: Paperback, Gewicht: 162 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 30.69 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Khan:Transistor-Level Defect-Tolerant T
    Erscheinungsdatum: 03/2012, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Transistor-Level Defect-Tolerant Techniques for Reliable Design, Titelzusatz: at the Nanoscale, Autor: Khan, Farhan, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 228, Informationen: Paperback, Gewicht: 356 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 66.99 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Mohamed Suffian:Test Defect Prediction
    Erscheinungsdatum: 04/2012, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Test Defect Prediction Model, Titelzusatz: Building a Prediction Model of Functional Test Defects for System Testing Using Six Sigma Methodology, Autor: Mohamed Suffian, Muhammad Dhiauddin // Ibrahim, Suhaimi // Abdullah, Mohamed Redzuan, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Anwendungs-Software, Seiten: 60, Informationen: Paperback, Gewicht: 106 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 43.39 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Sabeenian:Fabric Defect Detection in Ha
    Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Fabric Defect Detection in Handloom Cottage Silk Industries, Titelzusatz: Texture Image Classification for Textile Industries, Autor: Sabeenian, Savarimuthu // Paramasivam, Eswaran // Dinesh, Mani, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 128, Informationen: Paperback, Gewicht: 209 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 48.09 EUR excl. shipping
  • Thumbnail
    Patnaik:Study of Defect States in Silic
    Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Study of Defect States in Silicon Carbide, Autor: Patnaik, Padmaja // Mukhopadhyay, Gautam // Singh, Prabhakar P., Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Theoretische Physik, Seiten: 200, Informationen: Paperback, Gewicht: 316 gr, Verkäufer: averdo
    • Shop: averdo
    • Price: 61.39 EUR excl. shipping

Similar searches: