8 Results for : esr02

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    Der Tester ist ein kleines Werkzeugdesign fur Ingenieur, elektronische Wartung und Fabrik. Es ist sehr einfach, Plug-In- und SMD-Gerate zu testen. AuBerdem konnen verschiedene Arten von Dioden, Trioden, Thyristoren und MOSFETs getestet werden. In der Lage, den Geratetyp, die Polaritat des Stifts, den Ausgang hFE, die Ventilspannung und die Sperrschichtkapazitat des PET zu analysieren. Eigenschaften: Automatische Erkennung von NPN- und PNP-Bipolartransistoren, N- und P-Kanal-MOSFETs, JFETs, Dioden, Doppeldioden, Thyristoren und Triacs. Messung des Stromverstarkungsfaktors und der Basis-Emitter-Schwellenspannung von Bipolartransistoren. Detektion der Schutzdiode von Bipolartransistoren und MOSFETs. Messung der Gate-Schwellenspannung und des Gate-Kapazitatswerts von MOSFETs. Der Induktivitatsmessbereich liegt zwischen 0,01 mH und 20 H, auBerhalb des Bereichs oder wenn der Widerstand hoher als 2,1 k am Widerstand angezeigt wird. Die Testzeit betragt ca. 2 Sekunden. Nur die Messung der
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    Der Tester ist ein kleines Werkzeugdesign für Ingenieur, elektronische Wartung und Fabrik. Es ist sehr einfach, Plug-In- und SMD-Geräte zu testen. Außerdem können verschiedene Arten von Dioden, Trioden, Thyristoren und MOSFETs getestet werden. In der Lage, den Gerätetyp, die Polarität des Stifts, den Ausgang hFE, die Ventilspannung und die Sperrschichtkapazität des PET zu analysieren. Eigenschaften: Automatische Erkennung von NPN- und PNP-Bipolartransistoren, N- und P-Kanal-MOSFETs, JFETs, Dioden, Doppeldioden, Thyristoren und Triacs. Messung des Stromverstärkungsfaktors und der Basis-Emitter-Schwellenspannung von Bipolartransistoren. Detektion der Schutzdiode von Bipolartransistoren und MOSFETs. Messung der Gate-Schwellenspannung und des Gate-Kapazitätswerts von MOSFETs. Der Induktivitätsmessbereich liegt zwischen 0,01 mH und 20 H, außerhalb des Bereichs oder wenn der Widerstand höher als 2,1 kΩ am Widerstand angezeigt wird. Die Testzeit beträgt ca. 2 Sekunden. Nur die Messung der
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